2014年8月2日-7日，在美国哈特福德市举行的第六届国际微束分析会议暨显微学与显微分析2014年会（6th Meeting of the International Union of Microbeam Analysis Societies (IUMAS) conjuncted with Microscopy & Microanalysis (M&M) 2014）上，我校微尺度物质科学国家实验室博士研究生阮瞩和物理系博士研究生邹艳波同获“Early Career Scholarship”奖。阮瞩的工作“Quantum Monte Carlo Simulation for Atomic Resolution SEM/STEM Image”用最新发展的量子Monte Carlo方法模拟了在STEM中具有原子级分辨率的二次电子像，实现了对晶体样品中二次电子产生、输运及散射过程的模拟分析，证明了高加速电压下的原子内壳层电离是产生二次电子原子级像衬度的主要来源。邹艳波的工作“Model-Based Library for Critical Dimension Metrology by CD-SEM”采用Monte Carlo方法模拟了纳米线宽的CD-SEM二次电子线扫描曲线，为扫描电镜测量纳米线宽关键尺寸数据库的研发，以及相应的国际标准建立起到了积极作用。她们的报告得到专家的关注与好评。阮瞩和邹艳波同学的导师是丁泽军教授。
　　IUMAS会议是国际微束分析协会联合会主办的大型系列国际会议，每3-4年举办一次。今年该会议与M&M年会一同举行，有来自全球的2000多位显微学家参加会议，共有1000多个邀请报告和口头报告，以及上百家显微界仪器厂商展览最新的技术和产品。
　　为鼓励在显微学领域做出出色工作的青年学者和学生，大会设立了Early Career Scholarship奖，根据各微束分析协会对参会论文的评选结果，本届共授予来自7个国家的16人青年学者和学生Early Career Scholarship奖，其中我校的阮瞩和邹艳波同学名列其中。颁奖典礼于8月4日上午举行，由IUMAS主席Se-Ahn Song教授和中国微束分析协会特邀代表丁泽军教授共同为阮瞩和邹艳波同学颁发了获奖证书。