212025-09
中国科大基于频率测量法实现超高精度分子线强度比
近日,中国科学技术大学分子精密光谱研究团队联合英国伦敦大学学院(UCL)与德国计量局(PTB)在分子精密光谱与量子计量领域取得突破性进展。其最新研究成果以“Unprecedented Accuracy in Molecular Line-Intensity Ratios from Frequency-based Measurements”为题,于9月17日在国际著名期刊《科学进展》(Science Advances)在线发表。该工作通过发展完全基于频率测量的光谱技术,将分子线强度比的测量不确定度降至0.003%,并首次实现基于光学方案、可直接溯源至玻尔兹曼常数的原级测温,统计不确定度低至0.5mK,较之前文献报道同类工作的精度提升10倍以上,为量子化学、精密测量及多学科交叉研究开辟了新范式。