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高级共聚焦荧光显微技术:荧光寿命成像(FLIM)和荧光相关光谱(FCS)在材料学方向的应用讲座

来源:合肥微尺度物质科学国家研究中心
报告题目   高级共聚焦荧光显微技术:荧光寿命成像(FLIM)和荧光相关光谱(FCS)在材料学方向的应用讲座
报告人   Uwe Ortmann
报告人单位   Specialist for Spectroscopy and Microscopy, PicoQuant
报告时间   2023-10-18 14:30:00
报告地点   合肥微尺度物质科学国家研究中心理化大楼三楼3016会议室
主办单位   合肥微尺度物质科学国家研究中心
报告介绍

报告摘要:

  随着材料科学和生命科学等学科的不断发展,对于分子和细胞水平的精确观察成为了关键。 通过荧光寿命成像显微镜 ( FLIM, Fluorescence Lifetime Imaging Microscopy )技术,PicoQuant 为科学家们提供了强大的工具和持续的支持 ,以更深入地理解新型材料和生物系统等领域中的复杂问题。

在材料科学领域,本报告将展示如何将时间分辨共聚焦显微技术(如 FLIM、PLIM以及antibunching),和光谱技术(如TRPL或波长扫描)结合起来,可以在全新水平上研究材料的光物理特性可以在全新水平上研究材料的光物理特性。这些额外的信息有助于获得对材料特性更深入的理解,从而有助于优化实际应用中的方法和效率。


报告人简介:

  Uwe Ortmann studied physics at the University of Kiel, where he graduated in 1993. He then worked as product manager and as development engineer in several research and development companies before he joined PicoQuant in 1998 and became Head of Sales Marketing. His focus lies on time-resolved studies, spectrometer design, laser scanning microscopy, and single molecule detection.

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