应陆亚林教授的邀请,6月1日,以色列魏兹曼科学研究院周海彪来研究中心进行学术交流与访问,并为师生们作题为“Scanning SQUID-on-tip microscopy and the nanoscale measurement of de Haas-van Alphen effect in van der Waals devices”的学术报告。