| 报告题目 | 原子力显微镜电性能成像模式研究：KFM开尔文成像和微波成像模式 |
| 报告人 | 徐松 博士 |
| 报告人单位 | 美国是德科技有限公司高级科学家，韦恩州立大学客座教授 |
| 报告时间 | 2017-04-11 |
| 报告地点 | 合肥微尺度物质科学国家实验室九楼会议室（9004） |
| 主办单位 | 合肥微尺度物质科学国家实验室 |
| 报告介绍 | 报告摘要：
在原子力显微镜(AFM)成像模式中，轻敲模式是一种最为广泛应用的成像技术。AFM针尖悬臂逼近样品表面时，除了轻敲排斥力外，还很多不同的物理和化学作用会对悬臂的振荡振幅和相位发生作用。这些作用力包括样品的粘滞力，摩擦力，静电作用力，磁作用力，化学键，氢键，等等。原子力显微镜在研究导体，半导体和纳米材料电学性能有广泛的发展。本次讲座概括了原子力显微镜静电力成像的原理和发展历史以及Kelvin电势显微成像模式的物理和数学基础。我们同时还会讨论两种最新的高分辩Kelvin电势显微成像模式：多锁相通道调幅(AM-KFM)和多锁相通道调频(FM-KFM)电势显微成像，以及KFM的衍生成像模式: 样品表面极化率成像模式(dC/dZ) 。最后，我们还会讨论这些成像模式在半导体集 成电路，氟代烷自组膜和石墨 烯研究中的应用。
原子力扫描微波是最新的成像模式。这个成像模式中，一束达到几十兆赫兹的微波信号通过AFM针尖扫描样品，样品的电性能的不同使得微波在样品表面的反射波发生改变，通过对反射波的反调制成像，AFM可以测量样品的电容，电感，半导体内部掺杂分布和生物样品含水率等等许多纳米电性能。这个讲座将涉及到具体成像的原理和一些应用例子。
报告人简介： 工作简历
2014 美国维恩州立大学化工系客座教授，联合博士生导师
2013- 美国Sonimoto实验技术公司总工程师
2013-现在 美国是德科技有限公司测试技术高级科学家兼任产品研发部高级工程师
2005-2013 美国安捷伦科技有限公司测试技术高级科学家兼任产品开发项目管理经理
2001-2005 美国分子成像公司美东以及加拿大东部地区高级应用科学家
2000-2001 英国微材料测试公司驻美国技术专家
1991-1994 苏州大学测试中心工程师
创业经验
2012-现在 Sonimoto Laboratory (松木科学实验室)
原子力显微镜售后改装模块
原子力显微镜用户定制模块技术
桌面扫描电子显微镜
学历
1994–1999 美国维恩州立大学分析化学博士
1986–1991 中国科技大学化学学士
得奖
1998 David F. Boltz Memorial 科学奖, 维恩州立大学.
1998–1999 Thomas C. Rumble Fellowship奖, 维恩州立大学
1997–1998 维恩州立大学制造技术奖.
1996–1997 维恩州立大学制造技术奖
1994-1995 Thomas C. Rumble Fellowship, 奖, 维恩州立大学 |
